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SENTECH SI 500 ICP-RIE等離子體蝕刻系統(tǒng)使用具有低離子能量的電感耦合等離子體 (ICP) 源,可實(shí)現(xiàn)低損傷蝕刻和納米結(jié)構(gòu)。
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ALE是一種先進(jìn)的刻蝕技術(shù),可以針對(duì)較淺的微結(jié)構(gòu)進(jìn)行出色的深度控制。 隨著器件微結(jié)構(gòu)尺寸越來越小,要達(dá)到器件的更高性能可以通過ALE技術(shù)所具有的精度來實(shí)現(xiàn)。 在如今的先進(jìn)微電子器件制造中,高保真度的圖案轉(zhuǎn)移(刻蝕)是至關(guān)重要的。隨著特征尺寸縮小至亞10納米級(jí)別,以及新型器件采用超薄的二維材料,對(duì)原子尺度保真度的需求不斷增加。 原子層刻蝕(ALE)技術(shù)克服了傳統(tǒng)(連續(xù))刻蝕技術(shù)在原子尺度上的局限
新型 Lancer™ 離子束蝕刻 (IBE) 系統(tǒng)專為開發(fā)和生產(chǎn)智能手機(jī)、自動(dòng)駕駛汽車和其他可實(shí)現(xiàn)連接性、功能性和移動(dòng)性的“物聯(lián)網(wǎng)”設(shè)備中的下一代電子設(shè)備而設(shè)計(jì)。
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