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透射電鏡樣品桿清洗機

簡要描述:CIF透射電鏡樣品桿清洗機采用遠程離子清洗源設(shè)計,清洗快速高效,低轟擊損傷,同時可實現(xiàn)常規(guī)等離子清洗。主要用于TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏。

  • 產(chǎn)品型號:CIF-TEM
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-09-05
  • 訪  問  量: 756

詳細介紹

一、產(chǎn)品概述:

透射電鏡樣品桿清洗機是一款專為透射電子顯微鏡(TEM)樣品準備而設(shè)計的高效清洗設(shè)備。該機采用先進的清洗技術(shù),通過超聲波和化學溶劑的結(jié)合,能夠有效去除樣品桿表面的有機污染物、灰塵和其他雜質(zhì),確保樣品在顯微觀察中的清潔和高質(zhì)量成像。透射電鏡樣品桿清洗機具有自動化控制系統(tǒng),操作簡單便捷,并且可根據(jù)不同樣品材料和清洗需求進行參數(shù)調(diào)節(jié)。廣泛應用于材料科學、納米技術(shù)和生物醫(yī)學等領(lǐng)域,為研究人員提供可靠的樣品處理解決方案,提高實驗結(jié)果的準確性和重現(xiàn)性。

CIF透射電鏡(TEM)樣品桿清洗機采用遠程離子清洗源設(shè)計,清洗快速高效,低轟擊損傷,同時可實現(xiàn)常規(guī)等離子清洗。主要用于TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏。

二、設(shè)備用途/原理

·設(shè)備用途

透射電鏡樣品桿清洗機主要用于清洗透射電子顯微鏡(TEM)樣品桿,以去除其表面的有機污染物、灰塵和其他雜質(zhì),確保樣品在顯微觀察中的清潔與高質(zhì)量成像。該設(shè)備廣泛應用于材料科學、納米技術(shù)和生物醫(yī)學等研究領(lǐng)域,提升實驗結(jié)果的準確性和重現(xiàn)性。

·工作原理

該設(shè)備通常采用超聲波清洗和化學溶劑相結(jié)合的方式進行清洗。首先,樣品桿被放置在清洗槽中,清洗液通過超聲波振動產(chǎn)生細小氣泡,這些氣泡在破裂時能夠有效去除樣品表面的污染物。同時,清洗液中的化學成分進一步分解和溶解雜質(zhì)。清洗過程能夠均勻、全面地處理樣品桿,確保其表面達到所需的清潔度,以提高透射電子顯微鏡的成像質(zhì)量和分析準確性。

三、主要技術(shù)指標:

產(chǎn)品型號

CIF-TEM

等離子電源

13.56MHz射頻電源,射頻功率5-120W可調(diào),

遠程等離子源,自動匹配器

清洗室

清洗室尺寸?180xH100mm

清洗數(shù)量

可同時清洗3支TEM樣品桿

適配品牌

THERMO FISHERFEI)、日立HITACHI、捷歐路JEOL

氣體控制

標配單路質(zhì)量流量計(MFC)可選雙路。50毫升/分,自動控制氣體流量,不會受環(huán)境溫度和壓力變化影響

氣源選擇

根據(jù)需求氧氣、氬氣、氮氣、氫氣等多種清洗氣源選擇

真空控制

質(zhì)量流量計(MFC),皮拉尼真空計,測量范圍1E-5Torr

操控方式

7寸全彩觸摸屏控制,中英文互動操作界面

真空泵

前級泵

抽氣速率2 L/s

分子泵

極限真空:CF:5x10-6Pa,ISO-K: 3x10-5Pa

分子泵抽速 >80L/s (N2)

入口法蘭:DN100CF/DN100 ISO-K  

質(zhì)量保證

二年質(zhì)保,終身維護

   源

220V,50/60Hz,300W

四、產(chǎn)品特點

1. 遠程離子清洗源

2. 一機多用

3. 清洗快速高效,低轟擊損傷          


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