1.產(chǎn)品概述：

PVA TePla SAM系列的超聲波掃描顯微鏡使用簡單，操作方便，是一款用于過程控制和質(zhì)量保證，以及研究應(yīng)用的無損檢測設(shè)備。SAM系列旗下各型號均統(tǒng)一由一個符合行業(yè)標準的組件平臺衍生而來，在此基礎(chǔ)上，再融入了先進的生產(chǎn)和制造技術(shù)。

2.產(chǎn)品優(yōu)勢：

SAM系列旗下各型號均統(tǒng)一由一個符合行業(yè)標準的組件平臺衍生而來，在此基礎(chǔ)上，再融入了先進的生產(chǎn)和制造技術(shù)。憑借我司精密制造的高頻和換能器技術(shù)，我們的超聲波掃描顯微鏡能夠在高達400MHz的超聲頻率范圍內(nèi)進行詳細的聲學(xué)分析。這些設(shè)備可以廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、電子工業(yè)等域，幫助用戶實現(xiàn)快速且準確的無損檢測。無論是對材料中的缺陷進行定位和分析，還是對樣品結(jié)構(gòu)和表面形貌進行觀察和評估，我們的超聲波掃描顯微鏡都能提供可靠且高分辨率的成像結(jié)果。同時，我們還提供靈活多樣的配置選項，以滿足不同用戶需求和實驗要求。我們致力于為客戶提供高性能和可靠性的超聲波無損檢測解決方案，以滿足不斷發(fā)展的科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的需求。

SAM系列系統(tǒng)是門用于質(zhì)量和過程控制的無損檢測工具，借助高達400兆赫的新射頻和換能器技術(shù)實現(xiàn)詳細的聲學(xué)調(diào)查。簡單而強大的圖形界面確保了終用戶可以充分使用該系統(tǒng)性能和功能。

3.產(chǎn)品工藝：

X和Y方向的掃描范圍可單獨自定義，可選擇以下掃描范圍配置

250µm x 250µm到320mm x 320mm

250µm x 250µm到420mm x 420mm

模塊化設(shè)計的功能，如穿透式掃描、動態(tài)穿透式掃描、或"雙探頭 “和 “四探頭 “掃描儀配置等，大大優(yōu)化了掃描成像結(jié)果。