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燭龍™系列中的多模態(tài)光電顯微鏡是一臺(tái)具有超高穩(wěn)定性的多功能光電綜合測試和微加工系統(tǒng)，可根據(jù)客戶需求提供多種靈活可選的配置和方案。系統(tǒng)集成了電動(dòng)運(yùn)動(dòng)臺(tái)和振鏡的掃描方式，可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)下的光電流測試和掃描成像，熒光壽命測試和掃描成像，拉曼光譜測試，二次諧波測試，熒光光譜采集，發(fā)射和吸收等光譜端的測試和掃描成像。除此之外，整套系統(tǒng)可搭配飛秒脈沖激光器和我司自主研發(fā)的低溫系統(tǒng)進(jìn)行相關(guān)的變溫測試以及器件表

CAPELLA系列探針臺(tái)支持從晶圓到封裝芯片級(jí)的所有LED產(chǎn)品類型（垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片）的電氣和光學(xué)表征。無論您是需要高性能、高性價(jià)比還是專業(yè)探針系統(tǒng)，MPI PA 都能提供 LED 晶圓/芯片探針機(jī)系列，以滿足您的嚴(yán)格要求。

Micro LED（μLED）是顯示行業(yè)的光學(xué)技術(shù)突破。Micro LED顯示器為消費(fèi)/顯示器/汽車應(yīng)用提供了巨大的潛力，因?yàn)榕c其他發(fā)射設(shè)備相比，它們更亮、更快、使用壽命更長。 憑借在光電器件測試方面積累的多年經(jīng)驗(yàn)和客戶互動(dòng)，MPI 推出了 GEMINI 系列晶圓探針臺(tái)，可提供快速、高效和精確的測量，幫助您應(yīng)對(duì) Micro LED 測試和測量挑戰(zhàn)。

MPI AVIOR 系列為光通信市場提供了廣泛的高性能探針系統(tǒng)陣容。我們的探針系統(tǒng)提供頂部發(fā)射 （TP）、倒裝芯片 （FP） 發(fā)射和裸片/封裝 （DP） 配置，以滿足您的特定測試要求。無論是研發(fā)還是大規(guī)模生產(chǎn)，MPI的解決方案都能滿足您對(duì)準(zhǔn)確可靠測量的需求，同時(shí)降低測試成本。

“ELIONIX ”系列第五代超顯微壓痕硬度計(jì)，在日本制造的納米壓痕測試儀具有友好的 GUI，通過抑制測量環(huán)境中的干擾實(shí)現(xiàn)高數(shù)據(jù)再現(xiàn)性。

VEGA系列概述 MPI VEGA 探針系列已準(zhǔn)備好滿足激光二極管（VCSEL、EEL）和光學(xué)模塊市場的各種測試和材料處理要求。