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透射電鏡TEM

簡(jiǎn)要描述:透射電鏡TEM 介紹:
1. 配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡
2. TEM分辨率 (nm):0.14
3. 加速電壓:10 ~ 120kV

  • 產(chǎn)品型號(hào):customized
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2024-09-06
  • 訪  問  量: 912

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詳細(xì)介紹

一、產(chǎn)品概述:

透射電鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)是一種高分辨率的顯微鏡,利用電子束穿透樣品以獲取其內(nèi)部結(jié)構(gòu)和微觀特性的信息。TEM能夠提供納米級(jí)的分辨率,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物學(xué)和化學(xué)等領(lǐng)域。

二、設(shè)備用途/原理

·設(shè)備用途

TEM主要用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、缺陷、相變及其他微觀特性。它在金屬、陶瓷、半導(dǎo)體及生物樣品的分析中發(fā)揮著重要作用,常用于材料的成分分析、晶體取向測(cè)定以及納米結(jié)構(gòu)的形貌觀察。

·工作原理

TEM的工作原理是通過加速電子束穿透極薄的樣品。電子束在樣品中與原子相互作用,產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。透過樣品的電子被收集并形成圖像。TEM通常配備多種成像模式,如明場(chǎng)、暗場(chǎng)和電子衍射,以提供樣品的不同信息。由于其高分辨率,TEM能夠揭示樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分,為科學(xué)研究和材料開發(fā)提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

三、主要技術(shù)指標(biāo):

1. 配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微鏡

2. TEM分辨率 (nm):0.14

3. 加速電壓:10 ~ 120kV

4. 倍率 (TEM):×10~1,500,000

5. 樣品傾斜角:Tilt-X  ±70°(高傾斜樣品桿)

6. 多樣品裝填數(shù):4


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