當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體前道工藝設(shè)備 > 5 刻蝕設(shè)備 > LMEC-30012英寸特種金屬膜層刻蝕設(shè)備
簡要描述:LMEC-300™ 是魯汶儀器針對特種金屬膜層刻蝕而推出的 12 英寸集成設(shè)備,應(yīng)用于新興存儲(chǔ)器件的制備。此類器件的核心功能單元含有成分復(fù)雜的金屬疊層,例如磁存儲(chǔ)器的磁隧道節(jié)(MTJ)、相變存儲(chǔ)器中的合金相變層、阻變存儲(chǔ)器中的阻變疊層。其副產(chǎn)物不易揮發(fā),圖形化挑戰(zhàn)很大。 LMEC-300™ 反應(yīng)離子刻蝕與離子束刻蝕協(xié)同工藝,可規(guī)避 RIE 路徑的側(cè)壁沾污問題,也可突破 IBS 路徑的工藝線寬局
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1. 產(chǎn)品概述
LMEC-300™ 是魯汶儀器針對特種金屬膜層刻蝕而推出的 12 英寸集成設(shè)備,應(yīng)用于新興存儲(chǔ)器件的制備。此類器件的核心功能單元含有成分復(fù)雜的金屬疊層,例如磁存儲(chǔ)器的磁隧道節(jié)(MTJ)、相變存儲(chǔ)器中的合金相變層、阻變存儲(chǔ)器中的阻變疊層。其副產(chǎn)物不易揮發(fā),圖形化挑戰(zhàn)很大。 LMEC-300™ 反應(yīng)離子刻蝕與離子束刻蝕協(xié)同工藝,可規(guī)避 RIE 路徑的側(cè)壁沾污問題,也可突破 IBS 路徑的工藝線寬局限。薄膜沉積腔室可以不脫離真空環(huán)境為器件覆蓋鈍化層,避免側(cè)壁金屬氧化、水化,從而改善可靠性。這種 RIE、IBS與原位鈍化工藝集成方案,使 LMEC-300™ 成為新興存儲(chǔ)器件關(guān)鍵工藝的優(yōu)選。
2. 系統(tǒng)特性
設(shè)備集成了 Chimera® N 反應(yīng)離子刻蝕(RIE)腔室、Pangea® A 離子束塑形(IBS)腔室、Basalt® A 原位(in-situ)沉積腔室,工藝不離開真空環(huán)境
對于磁隧道結(jié)等難于形成揮發(fā)性產(chǎn)物的金屬/合金疊層,該設(shè)備可實(shí)現(xiàn)等離子體刻蝕、干法清洗和原位鈍化保護(hù)的功能
可提供不同工藝解決方案,滿足磁存儲(chǔ)器(MRAM)、相變存儲(chǔ)器(PCRAM)、阻變存儲(chǔ)器(ReRAM)、磁傳感器等器件的圖形化需求
可選配硬掩模刻蝕腔室 Chimera® A,形成從金屬硬掩模到器件功能層的一體化刻蝕方案
適用于12英寸晶圓
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