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高速高分辨顯微共焦拉曼光譜儀 系統(tǒng)功能： 快速獲得詳細(xì)的圖像和分析，非常適合于微觀和宏觀測量，提供*進(jìn)的二維和三維共聚焦成像能力。LabRAM Odyssey™具有高性能和直觀的簡易性，廣泛用于標(biāo)準(zhǔn)拉曼分析、光致發(fā)光(PL)、 針尖增強(qiáng)拉曼光譜 (TERS) 和其他聯(lián)用分析方法。通過簡單的AFM 升級(jí)，從微米尺度轉(zhuǎn)向納米光學(xué)世界。

智能型多功能橢偏儀? （Smart SE） 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快，準(zhǔn)確。它可以表征幾埃到20µm薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)（n, k）以及薄膜結(jié)構(gòu)特性（如粗糙度、光學(xué)梯度及各向異性等）。

霍爾效應(yīng)測試儀 簡介： 1.系統(tǒng)功能：用于測量半導(dǎo)體材料的電阻率/電導(dǎo)率、流動(dòng)性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數(shù)、磁阻、垂直/水平阻力比的半導(dǎo)體高性能霍爾系統(tǒng)。模塊化設(shè)計(jì)理念，允許輕松升級(jí)，該系統(tǒng)適用于各種材料，包括硅和化合物半導(dǎo)體和金屬氧化物膜等。 2.該系統(tǒng)具有低電阻率和高電阻率測量功能，具有雙重溫度功能和一個(gè)可選的低溫恒溫器，可擴(kuò)展該系統(tǒng)溫度范圍從90K到500K。

探針臺(tái) 簡介： 一、應(yīng)用:主要應(yīng)用于晶圓、芯片、器件、封裝等半導(dǎo)體制程測試環(huán)節(jié)。 二、類型：分析直流、射頻、高壓、毫米波、太赫茲、硅光測量、芯片級(jí)測量、定制化等 三、概況：1. 樣品尺寸：碎片~12英寸 2. 自動(dòng)化：手動(dòng)、半自動(dòng)、全自動(dòng)

它是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無法以外觀方式觀測的位置，利用其穿透不同密度物質(zhì)后光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生的對(duì)比效果可形成影像，即可顯示出待測物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題的區(qū)域。

Comet Yxlon FF35 CT X射線系統(tǒng)是一種創(chuàng)新的多功能高分辨率CT系統(tǒng) ，用于研發(fā)和質(zhì)量保證領(lǐng)域。FF35 CT 符合 SEMI® 的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)（包括 SEMI® S2-0818 和 SEMI® S8-0218 危險(xiǎn)和安全標(biāo)準(zhǔn)）并通過了相應(yīng)的認(rèn)證。